Corso teorico-pratico di Microscopia Elettronica a Scansione applicata ai Beni Culturali dell'Istituto Superiore per la Conservazione ed il Restauro

L'Istituto Superiore per la Conservazione ed il Restauro e la Società Italiana Scienze Microscopiche, in data 8-10 Ottobre 2008, organizzano il Corso teorico-pratico di Microscopia Elettronica a Scansione applicata ai Beni Culturali.
Il corso è rivolto sia a ricercatori, studenti e tecnici interessati alla microscopia elettronica, sia a chi opera in generale nel campo dei beni culturali. La prima parte del corso prevede una sezione teorica, nell'ambito della quale saranno illustrati i principi generali di funzionamento del SEM (descrizione dello strumento, interazione elettronemateria, microanalisi, ecc.) e mostrate le applicazioni nel campo dei beni culturali. Verranno affrontati argomenti come la caratterizzazione dei materiali costitutivi, le metodologie di indagine per risalire alle tecniche di esecuzione e per la valutazione dello stato di conservazione dei manufatti storico artistici. Saranno inoltre illustrate alcune applicazioni della microscopia in campi innovativi come le nanotecnologie per la conservazione dei beni culturali.

Maggiori informazioni ed il programma del corso si trovano nel documento allegato